SN74ABT18640DGGR

SN74ABT18640DGGR

निर्माता

Texas Instruments

उत्पादन कोटि

तर्क - विशेष तर्क

विवरण

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP

निर्दिष्टीकरणहरू

  • श्रृंखला
    74ABT
  • प्याकेज
    Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)Digi-Reel®
  • अंश स्थिति
    Obsolete
  • तर्क प्रकार
    Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers
  • आपूर्ति भोल्टेज
    4.5V ~ 5.5V
  • बिट्स को संख्या
    18
  • सञ्चालन तापमान
    -40°C ~ 85°C
  • माउन्ट प्रकार
    Surface Mount
  • प्याकेज / केस
    56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
  • आपूर्तिकर्ता उपकरण प्याकेज
    56-TSSOP

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